標(biāo)準(zhǔn)功能

45MG儀器在使用基本配置時(shí)，是一款易懂易學(xué)、操作簡(jiǎn)便的測(cè)厚儀，操作人員經(jīng)過(guò)基本的培訓(xùn)，就可完成常用的測(cè)厚應(yīng)用。不過(guò)，45MG儀器添加了可選軟件選項(xiàng)和探頭后，就會(huì)變成一款極為測(cè)厚儀，可以進(jìn)行典型的初級(jí)儀器不能完成的應(yīng)用。此外，大多數(shù)選項(xiàng)可以在購(gòu)買儀器時(shí)分別購(gòu)買，或在日后需要時(shí)購(gòu)買。

★  與所有Olympus雙晶探頭兼容，可對(duì)內(nèi)部腐蝕的金屬的厚度進(jìn)行測(cè)量

★  小值/大值模式

★  兩個(gè)報(bào)警模式

★  差值模式

★  時(shí)基B掃描

★  縮減率

★  增益調(diào)整（標(biāo)準(zhǔn)、高、低）

★  密碼式儀器鎖定

帶有可選橡膠保護(hù)套和支架的45MG儀器

抵御惡劣環(huán)境的能力

★  堅(jiān)固耐用，設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。

★  爆炸性氣氛：可在國(guó)家防火協(xié)會(huì)規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級(jí)2分段D組規(guī)定的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作，并且通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法511.4程序I中規(guī)定的測(cè)試。

★  防撞擊測(cè)試：通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法516.5程序I中規(guī)定的測(cè)試，每軸6個(gè)循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。

★  防振動(dòng)測(cè)試：通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測(cè)試，一般暴露：每軸1小時(shí)。

★  寬泛的操作溫度范圍

★  可選的帶有支架的橡膠保護(hù)套

簡(jiǎn)便操作的設(shè)計(jì)理念

★  可只用右手或左手操作的簡(jiǎn)潔的鍵區(qū)

★  可直接訪問(wèn)大多數(shù)功能的簡(jiǎn)便易行的操作界面

★  使用內(nèi)置MicroSD存儲(chǔ)卡和可插拔MicroSD存儲(chǔ)卡的存儲(chǔ)方式

★  USB通訊端口

★  可存儲(chǔ)475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)波形的可選字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器

★  默認(rèn)或自定義單晶探頭設(shè)置（可選）

★  密碼保護(hù)方式的儀器鎖定

★  彩色透反QVGA顯示，帶有室內(nèi)和室外顏色設(shè)置，具有清晰度

可選功能

只需幾次按鍵，即可完成從簡(jiǎn)單腐蝕測(cè)厚儀到多功能測(cè)厚儀的華麗變身。45MG測(cè)厚儀提供需密碼激活的5個(gè)軟件選項(xiàng)，從而躋身于工業(yè)領(lǐng)域中用途廣泛的測(cè)厚儀行列。

 回波到回波/穿透涂層：使用回波到回波選項(xiàng)，儀器屏幕上會(huì)顯示金屬的實(shí)際厚度，而涂層的厚度會(huì)被忽略。穿透涂層選項(xiàng)測(cè)量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，在進(jìn)行厚度測(cè)量時(shí)，無(wú)需去掉材料表面的漆層或涂層。

單晶： 這個(gè)選項(xiàng)可對(duì)很多材料，如：金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃及陶瓷，進(jìn)行非常厚度測(cè)量。這個(gè)選項(xiàng)可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。

單晶高穿透：這個(gè)選項(xiàng)可對(duì)較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進(jìn)行厚度測(cè)量?？膳c范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個(gè)選項(xiàng)包含單晶選項(xiàng)。

數(shù)據(jù)記錄器：45MG測(cè)厚儀帶有一個(gè)功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲(chǔ)和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個(gè)選項(xiàng)包含基于Windows的GageView接口程序。

帶有波形調(diào)整功能的實(shí)時(shí)A掃描： 用戶使用這個(gè)可選實(shí)時(shí)A掃描模式，可以在測(cè)厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測(cè)量讀數(shù)，對(duì)增益和空白設(shè)置進(jìn)行手動(dòng)調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中大限度地增強(qiáng)測(cè)量性能。這個(gè)極為有益的選項(xiàng)包含手動(dòng)增益調(diào)整、擴(kuò)展空白、第一個(gè)回波空白、范圍及延遲參數(shù)。

室內(nèi)顯示設(shè)置，可選A掃描模式

室外顯示設(shè)置，可選A掃描模式

使用雙晶探頭對(duì)腐蝕工件進(jìn)行測(cè)量

45MG測(cè)厚儀的一個(gè)主要應(yīng)用是測(cè)量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、船體外殼及其它結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中常使用的是雙晶探頭。

★  用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動(dòng)探頭識(shí)別功能

★  當(dāng)校準(zhǔn)過(guò)程中出現(xiàn)雙回波時(shí)，會(huì)發(fā)出雙回波警告

★  回波到回波/穿透涂層選項(xiàng)可測(cè)量帶有漆層和涂層的表面

★  高溫測(cè)量：溫度可高達(dá)500 °C]

B掃描成像（基于時(shí)間）

 45MG儀器提供的B掃描功能，可在屏幕上將實(shí)時(shí)厚度讀數(shù)轉(zhuǎn)換為橫截面圖像。在觀察材料厚度在一定距離上發(fā)生的變化時(shí)，這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功能非常有用。探頭一接觸到材料表面，就會(huì)激活B掃描。凍結(jié)小值功能用于顯示掃查區(qū)域的小厚度值?？蛇x45MG數(shù)據(jù)記錄器多可存儲(chǔ)單個(gè)B掃描中的10000個(gè)厚度讀數(shù)。

室內(nèi)顯示設(shè)置，B掃描模式

回波到回波/穿透涂層選項(xiàng)

回波到回波

測(cè)厚儀使用多個(gè)底面回波，顯示不計(jì)涂層厚度的實(shí)際金屬厚度：

★  自動(dòng)回波到回波

★  手動(dòng)回波到回波（僅出現(xiàn)于A掃描選項(xiàng)），可進(jìn)行以下操作：

?  增益調(diào)整

?  擴(kuò)展空白

?  回波空白

顯示A掃描的自動(dòng)回波到回波模式

調(diào)整第一個(gè)回波空白的手動(dòng)回波到回波模式

高溫表面

45MG測(cè)厚儀配上D932系列探頭（D790、D790-SM、D790-RL和D790-SL），是測(cè)量高溫材料（溫度高達(dá)500 oC）的理想選擇，并可獲得穩(wěn)定的厚度讀數(shù)。45MG的零位補(bǔ)償功能，通過(guò)補(bǔ)償探頭延遲塊因熱漂移而產(chǎn)生的溫度變化，提高了在高溫表面上進(jìn)行測(cè)量的精確性。

穿透涂層技術(shù)

使用單個(gè)底面回波測(cè)量金屬的實(shí)際厚度。使用這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要得到金屬的厚度，無(wú)需去掉表面的漆層和涂層。穿透涂層測(cè)量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。

顯示涂層厚度和鋼材料厚度的穿透涂層模式（波形選項(xiàng)未被激活）

顯示可選波形的穿透涂層模式

使用單晶探頭對(duì)工件進(jìn)行精確測(cè)量

對(duì)塑料、金屬、復(fù)合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進(jìn)行厚度測(cè)量

使用單晶探頭

用戶使用單晶探頭可以測(cè)量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和連接器類型的單晶探頭。如果用戶要將45MG儀器與單晶探頭配合使用，則必須購(gòu)買單晶軟件或高穿透軟件選項(xiàng)。

★  在使用頻率范圍為2.25 MHz到30 MHz的單晶探頭時(shí)，單晶軟件選項(xiàng)可顯示分辨率高達(dá)0.001毫米（0.0001英寸）的測(cè)量值。

★  高穿透軟件選項(xiàng)用于測(cè)量玻璃纖維、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。

★  測(cè)量厚度、聲速或渡越時(shí)間。

★  自動(dòng)調(diào)用默認(rèn)設(shè)置和自定義設(shè)置用于當(dāng)前應(yīng)用的功能簡(jiǎn)化了厚度測(cè)量操作。

單晶軟件選項(xiàng)

用戶使用單晶軟件選項(xiàng)，可以完成分辨率高達(dá)0.001毫米或0.0001英寸的極為厚度測(cè)量。這個(gè)選項(xiàng)可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。

★  大多數(shù)薄材料和厚材料

★  壁厚薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道及薄片材料

★  壁厚薄如0.10毫米（0.004英寸）的金屬容器、鋼圈板、機(jī)加工部件

★  汽缸孔、渦輪葉片

★  玻璃燈泡、瓶子

★  薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復(fù)合材料

★  曲面部分或內(nèi)圓角半徑較小的容器

高穿透軟件選項(xiàng)可以對(duì)很多鑄造金屬部件及聲波衰減性極強(qiáng)的材料進(jìn)行測(cè)量。

應(yīng)用設(shè)置調(diào)用

應(yīng)用設(shè)置調(diào)用功能簡(jiǎn)化了厚度測(cè)量操作。用戶在選擇了任何一個(gè)存儲(chǔ)探頭后，45MG測(cè)厚儀即會(huì)調(diào)出所有與這個(gè)內(nèi)置探頭相關(guān)的參數(shù)。

存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置

45MG儀器帶有21個(gè)標(biāo)準(zhǔn)單晶探頭設(shè)置，可用于常用的測(cè)量操作。這些默認(rèn)探頭設(shè)置可用于各種各樣的厚度測(cè)量應(yīng)用。

存儲(chǔ)的自定義設(shè)置

45MG還可存儲(chǔ)多35個(gè)自定義單晶探頭的設(shè)置，其中還包括校準(zhǔn)信息。用戶可以連接適當(dāng)?shù)奶筋^，并調(diào)用設(shè)置文件，然后儀器便可進(jìn)行厚度測(cè)量，甚至還可完成復(fù)雜的測(cè)厚應(yīng)用。

材料聲速測(cè)量

45MG儀器可以測(cè)量材料的聲速。在材料聲速與其它屬性密切相關(guān)的應(yīng)用中，這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功能非常有用。典型的應(yīng)用包括監(jiān)控鑄造金屬的球化程度，以及監(jiān)控復(fù)合材料/玻璃纖維的密度變化。

縮減率測(cè)量

差值模式和縮減率模式是45MG的標(biāo)準(zhǔn)功能。差值模式顯示實(shí)際厚度與預(yù)先設(shè)定的厚度值之間的差異?？s減率計(jì)算并顯示材料厚度變薄以后厚度縮減的百分比。對(duì)經(jīng)過(guò)彎曲變形并將制成車身面板的薄鋼板進(jìn)行的縮減率測(cè)量是一個(gè)典型的應(yīng)用。

使用20 MHz延遲塊探頭測(cè)量薄塑料材料。

使用V260-SM Sonopen探頭對(duì)薄玻璃進(jìn)行測(cè)量。

測(cè)量金屬板因彎曲變形而變薄的情況。

可測(cè)量包括塑料、金屬、橡膠、玻璃、陶瓷及復(fù)合材料在內(nèi)的很多材料的厚度。

單晶高穿透軟件選項(xiàng)

用戶使用這個(gè)選項(xiàng)可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測(cè)量橡膠、玻璃纖維、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料。 這個(gè)選項(xiàng)包含單晶選項(xiàng)。

★  大多數(shù)較厚或聲音衰減性較強(qiáng)的材料

★  厚鑄造金屬部件

★  厚橡膠輪胎、履帶

★  玻璃纖維船體、儲(chǔ)存罐

★  復(fù)合材料板

★  對(duì)于頻率范圍為0.5 MH到1.0 MHz的探頭，分辨率為0.01毫米（0.001英寸）